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MORELHÃO, S. L.; NETZKE, S.; FORNARI, C. I.; RAPPL, P. H. O.; ABRAMOF, E. Advanced X-ray diffraction methods for van der Waals epitaxic films. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS (SBPMAT), 17., , Natal, RN. (campo ausente ou vazio: 'booktitle') 2018. Disponível em: <http://urlib.net/ibi/8JMKD3MGP3W34R/3RRG8F2>.
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... como proposto por Morelhão et al. (2018).
... pode ser encontrada na literatura (MORELHÃO et al., 2018).